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Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)

Engesserstraße 5

Gebäude 30.10 (NTI)

76131 Karlsruhe

Tel.: +49 (0)721 608-42522
Fax.: +49 (0)721 608-45027
E-Mail: infoNvq8∂ihe kit edu

 

 

Außenstelle am LTI:


Lichttechnisches Institut
Engesserstraße 13
Geb. 30.34 (LTI)
76131 Karlsruhe

Herzlich Willkommen am IHE

Das Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik ist ein Institut der Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik des Bereichs 3 Maschinenbau und Elektrotechnik am Karlsruher Institut für Technologie (KIT).

Die Forschung des Instituts ist auf neuartige Systeme der Mikrowellentechnik und deren Industrialisierung ausgerichtet. Die wichtigsten aktuellen Forschungsthemen sind:

 

In der Lehre wird grundlegendes und anwendungsorientiertes Wissen gleichermaßen vermittelt. Neben Vorlesungen, Übungen und Tutorien erlernen die Studierenden anhand von Fallstudien die praktische Nutzung des erlernten Wissens. Sie werden frühzeitig in praxisorientierte Projekte mit Partnern in der Industrie und Forschung einbezogen.

 

Institutsleitung:

Prof. Dr.-Ing. Thomas Zwick

NEWS

 

An Integrated High-Precision Probe System for Near- Field Magnetic Measurements on Cryptographic LSIs, Prof. Mai-Khanh Nguyen Ngoc, University of Tokyo

15.12.2016, 9:45 a.m., Room 340, Bldg 30.10
Prof. Mai-Khanh Nguyen Ngoc
Prof. Mai-Khanh Nguyen Ngoc, University of Tokyo

This talk presents a high spatial resolution magnetic probe for the applications of measuring magnetic nearfield map on cryptography LSI chips. The integrated sensing probe fabricated by a 0.18-um CMOS process includes an on-chip magnetic pick-up coil and a 3-stage low-noise amplifier. The low-noise amplifier with controllable-gain is integrated with the pick-up coil to amplify the induced voltage of the coil. In addition, a Focused-Ion-Beam technique is applied to sputter away the Si-substrate area underneath the coil to enhance the coil’s performance. High-precision mechanical scanning and monitoring system for the probe is implemented in this work. The evaluation of the probe is performed by measuring the emission of a 100-um-width micro-strip-line. Then, the scanning system is applied to build a 2D-distributed magnetic-field map of a fieldprogrammable gate array operating with an Advanced-Encryption-Standard encryption core. Then, the achieved magnetic near-field maps with several frequency bands are achieved to identify sensitive areas of the clock’s information. Experimental results show that the proposed probe and high-precision mechanical scanning system can be used to identify and evaluate vulnerable surfaces of LSIs from magnetic-based side-attacks.

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